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InSEM HT高溫原位納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開發(fā)新的實驗。科學(xué)出版物表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)大型高溫試驗數(shù)據(jù)吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發(fā)研究材料的一個非常有價值的工具。

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試。本產(chǎn)品可進行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試、力學(xué)性能譜圖、納米動態(tài)力學(xué)分析、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試，可同時將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。還可以進行快速壓痕測量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均均相材料的重要手段。